工作原理

 

阿貝折射原理：這是最常見的原理之一。儀器通過將角膜接觸鏡樣本放置在折射棱鏡上，光線從棱鏡進(jìn)入角膜接觸鏡材料時(shí)，由于兩種介質(zhì)的折射率不同，光線會(huì)發(fā)生折射。根據(jù)折射定律，通過測量光線的入射角和折射角，就可以計(jì)算出角膜接觸鏡材料的折射率。阿貝折射儀通常采用白光光源，利用不同波長光的折射特性來精確測量折射率。

 

干涉法原理：利用光的干涉現(xiàn)象來測量折射率。當(dāng)一束光分成兩束，分別通過已知折射率的參考介質(zhì)和角膜接觸鏡樣本后再相遇，會(huì)產(chǎn)生干涉條紋。通過測量干涉條紋的移動(dòng)或變化，可以計(jì)算出角膜接觸鏡材料與參考介質(zhì)之間的折射率差異，進(jìn)而得到角膜接觸鏡材料的折射率。這種方法精度較高，常用于對(duì)折射率測量精度要求較高的場合。

 

儀器結(jié)構(gòu)

 

光學(xué)系統(tǒng)：包括光源、準(zhǔn)直透鏡、折射棱鏡、目鏡或成像系統(tǒng)等。光源發(fā)出的光經(jīng)過準(zhǔn)直透鏡變成平行光，照射到放置角膜接觸鏡樣本的折射棱鏡上，折射后的光線通過目鏡或成像系統(tǒng)進(jìn)行觀察和測量。

 

測量系統(tǒng)：用于測量光線的角度或干涉條紋等參數(shù)，進(jìn)而計(jì)算出折射率。在阿貝折射儀中，通常有角度測量裝置，如刻度盤或電子角度傳感器；在干涉法測試儀中，有專門的干涉條紋測量和分析裝置，如電荷耦合器件（CCD）相機(jī)和相應(yīng)的圖像處理軟件。

 

樣品夾持裝置：用于固定角膜接觸鏡樣本，確保樣本在測量過程中位置準(zhǔn)確且穩(wěn)定，避免因樣本移動(dòng)而影響測量結(jié)果。該裝置通常具有一定的調(diào)節(jié)功能，以適應(yīng)不同形狀和尺寸的角膜接觸鏡。

 

控制系統(tǒng)：部分高級(jí)的測試儀配備有控制系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測量、參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和分析等功能。用戶可以通過控制系統(tǒng)設(shè)置測量模式、光源波長等參數(shù)，并將測量數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)和打印，方便后續(xù)查看和處理。